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技術文章
  • 館陶半導體工廠氣體檢測儀 PS-2DKP
  • Bt8510在V5接口測試儀中的應用
  • 環(huán)境溫度試驗檢測設備的重要性
  • 維氏硬度計故障分析
  • 糖度計的原理及使用方法
  • 電子測量基礎(五)
  • Fluke ScopeMeter 190C的脈沖觸發(fā)功能
  • 紅外測溫儀在鑄造行業(yè)的應用
  • RIGOL開關電源測試方案
  • 比較熱電偶和熱電阻的區(qū)別
  • 當前位置:首頁 > 館陶儀器儀表 > 館陶氣體檢測儀 > 館陶半導體特氣
    半導體工廠氣體檢測儀
    型 號:PS-2DKP
    品 牌:日本新宇宙
    技術指標:檢測 SiH4(SiO2)
    館陶半導體工廠氣體檢測儀-PS-2DKP-日本新宇宙
    型號 PS-2DKP 
    檢測原理 定電位電解式+光散射式
    檢測氣體對象 SiH4(SiO2)
    指示范圍 SiH425ppm/SiO210mg/cm3
    傳感器供給電源 由各指示計組件供給
    泵電源 DC24V±10%
    可延長距離 1km(使用2mm2線)
    檢測方式 泵吸引式
    防爆結構 非防爆結構
    使用溫度范圍 0℃~40℃
    使用電纜線 2芯+2芯屏蔽電纜線
    重量 約6.2kg

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